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高低溫沖擊應(yīng)力試驗(yàn)箱

高低溫沖擊應(yīng)力試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述:高低溫沖擊應(yīng)力試驗(yàn)箱可執(zhí)行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存功能;等均溫速率可設(shè)定范圍5℃~30℃/min(40℃)

所屬分類:熱應(yīng)力復(fù)合試驗(yàn)箱

更新時(shí)間:2024-05-23

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

詳情介紹
品牌SETH/賽思價(jià)格區(qū)間20萬(wàn)-50萬(wàn)
產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,航天,汽車,電氣

高低溫沖擊應(yīng)力試驗(yàn)箱介紹:

  為了仿真不同電子構(gòu)件,在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境,縮短測(cè)試時(shí)間,降低測(cè)試費(fèi)用,但是必須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。賽思sethtest

高低溫沖擊應(yīng)力試驗(yàn)箱特點(diǎn):

1、可執(zhí)行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存功能
2、等均溫速率可設(shè)定范圍5℃~30℃/min(40℃)/min
3、滿足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求
4、賽思采用美國(guó)Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行
5、賽思除霜周期三天除霜一次,每次只需1小時(shí)完成;
6、通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存曲線下載功能
7、感測(cè)器放置測(cè)試區(qū)出(回)風(fēng)口符合實(shí)驗(yàn)有效性
8、機(jī)臺(tái)多處報(bào)警監(jiān)測(cè),配置無(wú)線遠(yuǎn)程報(bào)警功能
9、水路和水位控制與電控系統(tǒng)隔離安裝,安全可靠性高(SETH產(chǎn)品)

滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):

GB/T2423.22-2002 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Na
EIA-364-32 冷熱沖擊試驗(yàn)
IEC6008-2-14 溫度變化
GJB 150.5-1986 溫度沖擊試驗(yàn)
符合:MIL、IEC、JIS、IPC…應(yīng)力篩選RAMP(負(fù)載參見(jiàn)5.5.7,發(fā)熱負(fù)載≤50W)

產(chǎn)品&規(guī)范

廠商名稱

高溫

低溫

溫變率

循環(huán)數(shù)

循環(huán)時(shí)間

備注

MIL-STD-2164、GJB-1032-90
電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選

——

工作極限溫度

工作極限溫度

5℃/min

10~12

3h20min

——

MIL-344A-4-16
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選

設(shè)備或系統(tǒng)

71℃

-54℃

5℃/min

10

——

——

MIL-2164A-19
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法

——

工作極限溫度

工作極限溫度

10℃/min

10

——

駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到溫度10℃時(shí)

NABMAT-9492
美軍*制造篩選

設(shè)備或系統(tǒng)

55℃

-53℃

15℃/min

10

——

駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到溫度5℃時(shí)

GJB/Z34-5.1.6
電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南

組件

85℃

-55℃

15℃/min

≧25

——

達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間

GJB/Z34-5.1.6
電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南

設(shè)備或系統(tǒng)

70℃

-55℃

5℃/min

≧10

——

達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間

筆記本電腦

主板廠商

85℃

-40℃

15℃/min

——

——

——

溫控制斜率:

TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

 

30℃/min→

電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗(yàn)

28℃/min→

LED汽車照明燈

25℃/min→

PCB的產(chǎn)品合格試驗(yàn)、測(cè)試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng)

24℃/min→

光纖連接頭

20℃/min→

IPC-9701 、覆晶技術(shù)的溫度測(cè)試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗(yàn) PCB暴露在外界影響的ESS 測(cè)試方法、DELL計(jì)算機(jī)系統(tǒng)&端子、改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號(hào) 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測(cè)試(家電、計(jì)算機(jī)、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境)

11℃/min→

無(wú)鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測(cè)試、芯片級(jí)封裝可靠度試驗(yàn)(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測(cè)試

5℃/min→

 

錫須溫度循環(huán)試驗(yàn)

技術(shù)參數(shù):

型號(hào)

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

內(nèi)箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

溫度范圍

-80.00℃~+200.00℃

低溫沖擊范圍

-10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃

高溫沖擊范圍

+60.00℃~+150.00℃

時(shí)間設(shè)定范圍

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

溫度波動(dòng)度

≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

溫度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

溫度均勻度

<2.00℃以內(nèi)

溫變速率(斜率)

+5℃~+30℃/min(+40℃)

溫變范圍

-55℃~+85℃//+125℃

 



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