HALT箱和HASS箱試驗介紹

發(fā)布時間： 2015-04-16　　點擊次數(shù)： 1762次

HALT*HASS試驗箱提供的高溫變速率以及寬頻隨機振動獲取更多收益。HALT測試（高加速壽命測試）是目前世界的主流制造商廣泛采用的驗證性測試方法，用于發(fā)現(xiàn)電子或機電系統(tǒng)組件的設計缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。這些缺陷經(jīng)常出現(xiàn)在新產(chǎn)品發(fā)布后的終端應用領域，從而引起產(chǎn)品失效。HALT測試可以極大的提高產(chǎn)品質(zhì)量，縮短新產(chǎn)品研發(fā)上市的時間并降低保修成本。

環(huán)境模擬試驗：

早在1940年代美國就對產(chǎn)品的設計開始采用單因素環(huán)境的研制試驗與鑒定試驗，以檢驗設計的質(zhì)量與可靠性（1），至70年代發(fā)展到采用綜合環(huán)境可靠性試驗CERT和任務剖面試驗，為檢驗工藝則采用不帶設計作度的驗收試驗。

隨著環(huán)境模擬試驗技術(shù)的發(fā)展與成熟，各政府部門及軍兵種相繼頒了一系列的國標、軍標，以嚴格的法規(guī)形式來保證產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性，其中有代表性的如環(huán)境模擬試驗軍標MLIL-STD-810可靠性試驗軍標MIL-STD-781和空間飛行器試驗軍標MIL-STD-1540以及它們的修訂版，具體產(chǎn)品型號則根據(jù)這些標準與型號的特點制訂詳細的試驗大鋼，長期以來環(huán)境模擬試驗便成為保障產(chǎn)品可靠性主要手段。

這種方法的不足之處是對設計和工藝缺陷未作專門處理，只分別通過鑒定試驗與驗收試驗解決，因此潛在的缺陷殘留量仍不少，隨時都是可能在外場使用出現(xiàn)故障，可靠性的增長靠自然反饋緩緩地實現(xiàn)，這時木已憂舟，留給設計修改的時間與間空者極其有限，從而使市場競爭的優(yōu)勢在為降低。

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