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賽思解說什么是可靠性測試:
電子元器件的可靠性指標(biāo)通常用失效率來表示。而對電子設(shè)備而言,除特種設(shè)備外一號是可以修復(fù)的,其可靠性指標(biāo)往往用平均*工作時(shí)間(MTBF)來表示。電子產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)不同于產(chǎn)品的電氣性能指標(biāo),它有時(shí)間性、綜合性和統(tǒng)計(jì)性等特點(diǎn),它不能像電氣性能指標(biāo)那樣直接用儀器,儀表測量,―股是通過5面兩種途徑獲得:
一是將產(chǎn)品放在現(xiàn)場使用的典型條件下工作―個規(guī)定的時(shí)間,根據(jù)累計(jì)工作時(shí)間和累計(jì)失效數(shù)經(jīng)數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法處理獲得。這種數(shù)據(jù)叫產(chǎn)品現(xiàn)場可靠性試驗(yàn)驗(yàn)證值,獲得產(chǎn)品現(xiàn)場可靠性試驗(yàn)驗(yàn)證證值的方法叫現(xiàn)場可靠性測試。
二是通過在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行可靠性測試的方法獲得產(chǎn)品的可靠性指標(biāo),這種方法是在實(shí)驗(yàn)室甲用一種規(guī)定的和受控的工作條件及環(huán)境條件,模擬現(xiàn)場的使用條件和產(chǎn)品在現(xiàn)場所遇到的環(huán)境應(yīng)力進(jìn)行試驗(yàn),將累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間和累計(jì)失效數(shù)經(jīng)數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法處理獲得,這種數(shù)據(jù)叫產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的驗(yàn)證值
這樣,對“什么是可靠性測試"的問題可以簡單地回答為:為評價(jià)分析產(chǎn)品的可靠性 而進(jìn)行的試驗(yàn),就叫可靠性試驗(yàn),也可以這樣說,凡是為提高產(chǎn)品可靠性(如老煉和篩選試驗(yàn))考核產(chǎn)品可靠性(如例行試驗(yàn))評價(jià)產(chǎn)品可靠性(如壽命試驗(yàn))和分析產(chǎn)品可靠性(如失效分析試驗(yàn))的試驗(yàn)通稱可靠性試驗(yàn),除特別注明外,通常所稱的可靠性試驗(yàn),就是指室內(nèi)的模擬可靠性測試:即在實(shí)驗(yàn)室里,用模擬現(xiàn)場工作條件和環(huán)境條件進(jìn)行試驗(yàn),借以確定電子元器件可靠性的方法,就叫做可靠性測試。